معرفی و دانلود کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی
برای دانلود قانونی کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی و دسترسی به هزاران کتاب و کتاب صوتی دیگر، اپلیکیشن کتابراه را رایگان نصب کنید.
معرفی کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی
طیف نمایی روشی علمی است که به بررسی و اندازهگیری طیفهای تولیدشدهی نور میپردازد. کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی، نوشتهی علی محمد قائمی نیا و محمد اخوان قالیباف از کاربردهای طیف نمایی پرتوی ایکس در بررسی و شناخت بیشتر مواد در منابع طبیعی صحبت میکند.
درباره کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی
پس از برگزاری کارگاه آموزشی «روشهای جدید XRF و پرسشهای مرتبط با آن در ایران» با حضور دکتر رینولد شولتز از کشور آلمان، به عنوان یکی از متخصّصان این زمینه در دانشکده منابع طبیعی و کویرشناسی دانشگاه یزد در آذرماه سال 1393، لزوم وجود منبعی جامع و تخصّصی برای دانشجویان و پژوهشگران منابع طبیعی در این زمینه احساس شد و نویسندگان را بر آن داشت تا آموختهها، تجربیات عملی و یافتههای علمی خود را در استفاده از روش XRF، در اختیار علاقهمندان قرار دهند.
کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی از چهار فصل تشکیل شده است: فصل اوّل به مفاهیم و تاریخچه اختصاص یافته است. در فصل دوم، تئوری و اصول بنیادین آنالیز XRF مطرح و سعی شده گزیدهای از مباحث مفید کارگاه آموزشی یادشده که به زبان انگلیسی برگزار گردید، در آن گنجانده شود. تجربیات نویسندگان علی محمد قائمی نیا و محمد اخوان قالیباف در انجام آنالیز XRF در آزمایشگاه، در فصل سوم آمده است و در فصل چهارم با ذکر مثالهایی به انواع کاربردهای مختلف این آنالیز در منابع طبیعی پرداخته میشود.
این کتاب میتواند منبع بسیار مفیدی برای دانشجویان رشتههای مرتبط با منابع طبیعی باشد تا در پژوهشها، مقالات یا پایاننامههای خود از آن استفاده کنند.
کتاب کاربرد کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی مناسب چه کسانی است؟
دانشجویان منابع طبیعی، پژوهشگران و علاقهمندان به مبحث طیف نمایی از مطالعهی کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی بهره خواهند برد.
در بخشی از کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی میخوانیم
از آنچه که هر روز تجربه میکنیم میدانیم که نور به طور کلّی در خطوط مستقیم حرکت میکند. این امر با مفهوم نور به عنوان پرتویی از ذرّات (فوتونها، کوانتومها) مطابقت دارد. ما از امواج روی اقیانوس میدانیم که وقتی یک سری موج از میان روزنهای کوچکتر نسبت به طول موج عبور کنند، امواج که از روزنه خارج میشوند به اطراف پخش میشوند. نور همان ویژگی موج را نشان میدهد. انحراف نور به واسطه سیر آن در یک خط مستقیم، انکسار (پراش) نامیده میشود.
کاربردهای متعددی برای اثرات انکسار وجود دارد. در XRF پاشنده طول موج، ما عمدتاً علاقهمند به انکسار در شبکههای بازتاب هستیم. اغلب در دامنه نور مرئی (λ برابر 750-380 نانومتر)، شبکههای آینهای ایجاد شده توسّط شیارهای فاصلهدار در فواصل مساوی در بازتاب سطح فلزی هستند که استفاده میشود. این امر در زمینه پرتوی ایکس امکانپذیر نیست؛ زیرا طول موجهای درگیر در حدود 2 تا 5 مرتبه از لحاظ بزرگی، کوچکتر (λ برابر 11-0/02 نانومتر) هستند. فواصل شبکه بسیار کوچکتری، مانند مواردی که در بلورهای طبیعی یافت میشود، برای انکسار پرتوی ایکس در شبکه بازتابی لازم است.
بعد از برانگیخته شدن عناصر موجود در نمونه توسّط پرتوی ایکس، آمیزهای از طول موجهای مشخّصه هر عنصر (پرتوهای تابانشده) نمونه را ترک میکند. در حال حاضر، دو روش در XRF برای شناسایی این طول موجهای گوناگون وجود دارد.
فهرست مطالب کتاب
پیشگفتار نویسندگان
فصل اول: مفاهیم و تاریخچه
مقدّمه
تاریخچه
پرتوی ایکس چگونه کار میکند؟
کاربردهای چندگانه
فصل دوم: تئوری و اصول بنیادین
تابش الکترومغناطیس، کوانتوم
انرژی فوتون در یک طول موج خاص
منشأ پرتوهای ایکس
تابش مشخّصه
اصطلاحات فنّی
تولید تابش مشخّصه
لولههای پرتوی ایکس، تابش ترمزی
انواع لولههای (لامپ های) تولید پرتوی ایکس
لولههای با پنجره جانبی
لولههای با پنجره انتهایی
مولّد برق
تحریک تابش مشخّصه در مادّۀ نمونه
آشکارسازهای پرتوی ایکس
شمارنده تناسبی گازی
شمارندۀ سوسوزَن
آنالیز ارتفاع پالس (PHA)
توزیع ارتفاع پالس
انکسار در بلورهای تجزیهکننده
تداخل
انکسار
انکسار پرتوی ایکس از یک شبکه بلوری، معادله براگ
انعکاسهای مراتب زیادتر
انواع بلورها
پاشش، تفکیک خط
انواع استاندارد
چندلایه ها
بلورهای ویژه
بلورهای منحنی
موازیکنندهها
پیکربندی محفظه آنالیز دستگاه
فصل سوم: انجام آنالیز XRF
مقدمه
ارسال نمونه به آزمایشگاه XRF
تجهیزات آنالیز مواد به روش XRF
آماده سازی نمونه
نتیجه آنالیز XRF
فصل چهارم: زمینههای کاربرد XRF در علوم منابع طبیعی
مقدمه
منشأیابی ذرات گرد و غبار
شناسایی عناصر اصلی و کمیاب گرد و غبار
بررسی بستر کشت و تأمین مواد مغذی برای گیاه
بررسی هیدروژئوشیمیایی منابع آب زیرزمینی
بررسی تغییرات شیمیایی در اثر هوازدگی سنگها و تشکیل خاک
بررسی نحوه پیدایش و پایداری کانیها در ارتباط با فعالیت عناصر در خاک
بررسی سنگ مادر و میزان بلوغ رسوبات رودخانهای
بررسی آلودگی خاکها به فلزات سنگین
بررسی کمّی و کیفی غبار اطراف کارخانههای صنعتی
بررسی کانیهای پاکسازیکننده عناصر سنگین از محیطهای آبی
بررسی ویژگی ترکیب عنصری رسها در فرونشست زمین
بررسی ترکیب اصلی ریزگردها از نظر بیماری زایی
بررسی امکان استفاده از ضایعات صنعتی به عنوان کود
منشأیابی رسوبات رودخانهای ورودی به دریاچه سدها
بررسی استفاده از مواد افزودنی برای تثبیت خاک
بررسی نقش استخراج معادن در ایجاد آلودگی زیست محیطی
بررسی ظرفیّت گیاهان مختلف در گیاه پالایی خاک و آب
مطالعه ژئوشیمی رسوبات بادی
بررسی ترکیب آلودگی اکوسیستمهای دریایی
تحلیل اقلیم دیرینه
منابع
نمایه
واژهنامه
مشخصات کتاب الکترونیک
نام کتاب | کتاب کاربرد طیف نمایی تابان شدن پرتوی ایکس (XRF) از مواد در منابع طبیعی |
نویسنده | علی محمد قائمی نیا، محمد اخوان قالیباف |
ناشر چاپی | انتشارات دانشگاه یزد |
سال انتشار | ۱۴۰۱ |
فرمت کتاب | |
تعداد صفحات | 152 |
زبان | فارسی |
شابک | 978-622-5846-01-2 |
موضوع کتاب | کتابهای زیست شناسی |